一、產(chǎn)品簡(jiǎn)介

        Reke-302W 絕緣子鹽灰密一體機(jī)用于檢測(cè)電力線路中絕緣子的污穢附著情況，該儀器可一次測(cè)量絕緣子鹽密度和灰密度，簡(jiǎn)化了絕緣子污穢檢測(cè)的流程，非常適合巡檢現(xiàn)場(chǎng)和實(shí)驗(yàn)室使用。電力線路中絕緣子的污穢程度主要通過鹽密度（ESDD）和灰密度的（NSDD）來表征，該儀器同時(shí)具備測(cè)量鹽密度和灰密度的功能。內(nèi)置了常用溶液體積、絕緣子型號(hào)，方便用戶直接調(diào)用，絕緣子型號(hào)與表面積支持用戶自定義，增加數(shù)據(jù)保存功能，可保存十萬組測(cè)試數(shù)據(jù)，本機(jī)查看數(shù)據(jù)，支持U盤導(dǎo)出數(shù)據(jù)，并配有上位機(jī)數(shù)據(jù)處理軟件，方便用戶在計(jì)算機(jī)上查看、編輯、導(dǎo)出Excel表格。

二、功能說明

2.1 儀器構(gòu)成

Reke-302W 絕緣子鹽灰密一體機(jī)各部分組成如圖2.1，各部分功能如下：
顯示屏：該顯示屏為觸摸顯示屏，除顯示測(cè)量結(jié)果等數(shù)據(jù)外還可通過觸摸屏輸入?yún)?shù)、操作檢測(cè)、歷史記錄查看等功能。
打印機(jī)：以小票形式打印檢測(cè)結(jié)果，需要自行更換打印紙。
檢測(cè)口：待檢測(cè)的溶液可通過檢測(cè)口倒入內(nèi)部檢測(cè)容器以便進(jìn)行測(cè)量。
排水口：測(cè)量完成后用來排出被測(cè)溶液，排水前要插入儀器配套的排水管。
充電口：使用配套充電器通過充電口給儀器充電。
排水鍵：控制儀器排水功能，當(dāng)檢測(cè)結(jié)束后可按下此按鍵將加入檢測(cè)口的溶液通過排水口排出。
電源鍵：控制儀器總電源，按下儀器開機(jī)。
 

2.2 主要參數(shù)表及相關(guān)術(shù)語

項(xiàng)目	范圍
灰密度測(cè)試范圍	0—9.9999mg/cm2
電導(dǎo)率測(cè)試范圍	0-200000uS/cm
鹽密度測(cè)試范圍	0—9.9999mg/cm2
灰密度誤差范圍	±3%FS
電導(dǎo)率誤差范圍	±1%FS
鹽密度誤差范圍	±1%FS
顯示屏	7寸高清觸摸屏
電源電壓	12.6V 6000mAh鋰電池
環(huán)境溫度	0—40℃
相對(duì)濕度	≤85%
外形尺寸	407*342*193mm
儀器重量	4.6Kg

相關(guān)術(shù)語：
1、參照盤形懸式絕緣子 reference cap and pin insulator
XP-70、XP-160、LXP-70和LXP-160普通盤形懸式絕緣子（根據(jù)GB/T 7253），通常7~9片組成一串用來測(cè)量現(xiàn)場(chǎng)污穢度。
2、爬電距離 creepage distance
在兩個(gè)導(dǎo)電部分之間，沿絕緣體表面的最短距離。
注：水泥或其他非絕緣膠合材料表面不認(rèn)為是爬電距離的構(gòu)成部分。如果絕緣子的絕緣件的某些部分覆蓋有高電阻層，則該部分應(yīng)認(rèn)為是有效絕緣表面并且沿其上面的距離應(yīng)包括在爬電距離內(nèi)。
3、統(tǒng)一爬電比距 unified specific creepage distance（USCD）
絕緣子的爬電距離與其兩端承擔(dān)的最高運(yùn)行電壓（對(duì)于交流系統(tǒng)，為最高相電壓）之比，mm/kV。
4、附鹽密度 salt deposit density（SDD）
人工涂覆于給定絕緣子表面（不包括金屬部件和裝配材料）上氯化鈉總量除以表面積，mg/cm²。
5、等值附鹽密度 equivalent salt deposit density（ESDD）
絕緣子單位絕緣表面上的等值附鹽量，mg/cm²。
6、不溶物密度（簡(jiǎn)稱灰密） non soluble deposit density（NSDD）
絕緣子單位絕緣表面上清洗的非可溶殘留物總量除以表面積，mg/cm²。
7、現(xiàn)場(chǎng)等值鹽度 site equivalent salinity（SES）
根據(jù)GB/T 4585進(jìn)行鹽霧試驗(yàn)時(shí)的鹽度。用該鹽度試驗(yàn)，在相同絕緣子和相同電壓下，產(chǎn)生的泄露電流峰值與現(xiàn)場(chǎng)自然污穢條件下的泄露電流基本相同。
8、現(xiàn)場(chǎng)污穢度 site pollution severity（SPS）
在適當(dāng)?shù)臅r(shí)間段內(nèi)測(cè)量到的污穢嚴(yán)重程度ESDD/NSDD或SES的較大值。
9、現(xiàn)場(chǎng)污穢度等級(jí) site pollution severity class
將污穢嚴(yán)重程度從非常輕到非常嚴(yán)重按SPS的分級(jí)。
10、帶電系數(shù)K1 energy coefficient K1
同形式絕緣子帶電所測(cè)ESDD/NSDD（SES）值與非帶電所測(cè)ESDD/NSDD（SES）值之比，K1一般為1.1~1.5。

2.3 主測(cè)量界面
開機(jī)，即為測(cè)量頁面，測(cè)量工作均在此頁面進(jìn)行，相關(guān)按鈕介紹見下表：

按鈕名稱	功能
“參數(shù)”	切換至“參數(shù)設(shè)置界面”
“記錄”	切換至“記錄查看界面”
“校準(zhǔn)”	校準(zhǔn)鹽密、灰密基準(zhǔn)值
“攪拌”	將溶液污穢物拌勻并測(cè)量灰密值
“打印”	打印本次測(cè)量結(jié)果
“保存”	保存測(cè)試結(jié)果到內(nèi)存中

2.4 參數(shù)界面
相關(guān)“基本參數(shù)”、“設(shè)備參數(shù)”、“飽和鹽密”、“絕緣子”均在此頁面進(jìn)行設(shè)置，相關(guān)按鍵介紹見下表:

按鈕名稱	功能
“參數(shù)選項(xiàng)卡”	點(diǎn)擊切換至相應(yīng)設(shè)置界面
“保存”	保存當(dāng)前選項(xiàng)卡設(shè)置的數(shù)據(jù)
“恢復(fù)出廠”	恢復(fù)當(dāng)前選項(xiàng)卡數(shù)據(jù)為出廠值
“返回”	返回上級(jí)菜單
“電極校準(zhǔn)”	通過設(shè)置的標(biāo)準(zhǔn)溶液電導(dǎo)率，自動(dòng)校準(zhǔn)測(cè)試中的電極常數(shù)
“廠家設(shè)置”	未開放用戶權(quán)限

測(cè)量頁保存在儀器內(nèi)存中的數(shù)據(jù)在該頁進(jìn)行查看，圖2.7為記錄列表，可通過測(cè)量時(shí)間在該頁檢索需要查看的記錄。圖2.8為記錄詳情，在記錄列表點(diǎn)“查看當(dāng)前”進(jìn)入記錄詳情頁，按鍵介紹見下表:
 

按鈕名稱	功能
“左箭頭”	切換“上一頁”或“上一條”
“右箭頭”	切換“下一頁”或“下一條”
“查看當(dāng)前”	切換到選中記錄的“記錄詳情頁”
“導(dǎo)出所有”	將內(nèi)存中所有數(shù)據(jù)條導(dǎo)出至U盤
“刪除所有”	格式化內(nèi)存區(qū)，刪除所有數(shù)據(jù)
“打印當(dāng)前”	打印當(dāng)前記錄數(shù)據(jù)
“導(dǎo)出當(dāng)前”	將當(dāng)前數(shù)據(jù)條導(dǎo)出至U盤
“刪除當(dāng)前”	刪除當(dāng)前記錄數(shù)據(jù)
“返回”	返回上級(jí)菜單

三、操作說明

在進(jìn)行絕緣子灰密度鹽密度檢測(cè)時(shí)，首先要使用蒸餾水對(duì)絕緣子進(jìn)行清洗，然后使用清洗后的溶液進(jìn)行灰密度鹽密度測(cè)量，測(cè)量完成之后可保存或打印測(cè)試結(jié)果。最后使用排水功能將被測(cè)溶液排出并對(duì)儀器的檢測(cè)口進(jìn)行清洗。各項(xiàng)功能的具體操作步驟如下： 

3.1配置溶液及擦拭絕緣子

3.1.1配置溶液
溶劑用量：標(biāo)準(zhǔn)普通型絕緣子每片用水量為300ml 。但是當(dāng)被測(cè)絕緣子的表面積與普通絕緣子不同時(shí)，可參照下表，根據(jù)絕緣子表面積大小按比例適當(dāng)增減用水量。
絕緣子表面積與鹽密測(cè)量用水量關(guān)系表

絕緣子表面積（cm²）	≤1500	1500～2000	2000～2500	2500～4000
用水量（ml)	300	400	500	600